助力第三代半导体测试 ——麦科信参加亚洲电源技术发展论坛圆满成功

2月25日，第十二届亚洲电源技术发展论坛在深圳市圆满举办，麦科信科技携带第三代半导体测试解决方案 光隔离探头和示波器、差分探头、电流探头等测试测量产品及技术解决方案受邀参加。期间，麦科信OIP系列光隔离探头，凭借高达160dB的共模抑制比，最高1GHz的带宽和优于1%的测量精度等优势，吸引众多参会人员的关注，成为展厅里的明星产品。

 OIP系列光隔离探头采用独家 SigOFIT™光纤隔离技术，拥有极高的共模抑制比和隔离电压，在其带宽范围内洞见信号的全部真相，是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。

除此之外，我司资深技术支持在本次论坛上进行了“第三代半导体测试的挑战”主题演讲，为大家解答关于第三代半导体、碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)测试遇到的问题，并提供了麦科信 光隔离探头作为解决方案，给深受测试困扰的工程师们提供了新的思路。

 　此次麦科信科技收获颇丰，未来，麦科信科技将继续坚持以技术赋能，不断磨砺、与时俱进，为客户提供最优的产品和最好的服务。