半导体应用
应用场景
随着半导体工艺持续迭代升级，芯片工作电压不断降低、信号速率持续提升，高速数字与功率器件的电气特性日趋复杂，对测试测量的精度、带宽与稳定性提出了更高要求。在芯片设计验证、功率器件特性分析、SiC/GaN 第三代半导体研发以及先进封装测试等关键环节，工程师需要对高速瞬态信号、低幅度微弱信号及高频噪声实现可靠捕获与精准分析。
核心挑战
在高频高速信号测量中，信号完整性易受传输损耗、反射与串扰影响，难以得到可靠保障；微弱电平信号本身幅值微小，极易被系统噪声与环境干扰淹没；在高共模电压、强电磁干扰的复杂工况下，共模抑制难度大幅提升，测量精度与稳定性难以保证。
解决方案
麦科信提供高带宽、高精度示波器与SigOFIT光隔离探头组合，实现微小信号精准还原；高CMRR设计确保在高共模环境下依然稳定测量；支持高速动态分析，助力芯片性能验证。
