时间:2023-03-01
2月25日,第十二届亚洲电源技术发展论坛在深圳市圆满举办,麦科信科技携带第三代半导体测试解决方案光隔离探头和示波器、差分探头、电流探头等测试测量产品及技术解决方案受邀参加。期间,麦科信OIP系列光隔离探头,凭借高达160dB的共模抑制比,最高1GHz的带宽和优于1%的测量精度等优势,吸引众多参会人员的关注,成为展厅里的明星产品。
OIP系列光隔离探头采用独家 SigOFIT™光纤隔离技术,拥有极高的共模抑制比和隔离电压,在其带宽范围内洞见信号的全部真相,是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。
麦科信展位吸引工程师参观驻足
除此之外,我司资深技术支持在本次论坛上进行了“第三代半导体测试的挑战”主题演讲,为大家解答关于第三代半导体、碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)测试遇到的问题,并提供了麦科信光隔离探头作为解决方案,给深受测试困扰的工程师们提供了新的思路。
麦科信技术支持进行主题演讲
麦科信技术支持进行主题分享
此次麦科信科技收获颇丰,未来,麦科信科技将继续坚持以技术赋能,不断磨砺、与时俱进,为客户提供最优的产品和最好的服务。