洞见信号的全部真相
OIP Pro系列光隔离探头采用独家 SigOFIT™光纤隔离技术，
使用激光供电，拥有极高的共模抑制比和隔离电压，在其带
宽范围内洞见信号的全部真相，是判定其他电压探头所测信
号真实性的终极裁判。
带宽：DC-1GHz 共模电压：60kVpk
直流增益精度：1% 共模抑制比 ：高达160dB
最真实的信号呈现
OIP Pro系列光隔离探头具有极高的共模抑制比，在100MHz时CMRR高达112dB、在500MHz时CMRR仍然高达100dB，是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。
极高的测试精度
作为判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判，测试精度是OIP Pro系列光隔离探头的重要指标。OIP Pro系列光隔离探头，具有极佳的幅频特性，有效精度带宽[1]高达标称带宽50%以上，在有效精度带宽内可以确保1.5%的测试精度，直流增益精度优于1%，全量程范围内最大1.1mVrms底噪，24小时零点漂移小于50μV。
第三代半导体的最佳测试手段
第三代半导体器件由于导通与关断时间很短，信号具有更快的上升沿和下降沿，信号中具有很高能量的高频谐波，OIP Pro系列光隔离探头在最高带宽时，仍然具有近100dB的共模抑制比，可以近乎完美地抑制高频共模噪声所产生的震荡，所呈现的信号没有额外多余成分，是第三代半导体测试的不二之选。
测试氮化镓（GaN）不炸管
OIP Pro系列光隔离探头测试引线短且采用同轴传输，探头输入电容小于3pF，测试氮化镓（GaN）十分安全。
使用灵活
OIP Pro系列光隔离探头比传统高压差分探头体积更小，探头引线更精巧，使用更加灵活方便。
测试量程更宽
不同于高压差分探头只可以测试高压信号，OIP Pro系列光隔离探头通过匹配不同的衰减器，可以测试±1V至±2500V的差模信号，并实现满量程输出，达到很高的信噪比。
高效便捷
OIP Pro系列光隔离探头响应快，上电即测，无需预热等待，校准时间小于1秒，可实时保证精确的信号输出。
应用场景
对其他电压探头所测结果准确性、真实性存在质疑时，OIP Pro系列光隔离探头可作为最终裁判依据。
电源设备评估、电流并联测量、EMI 和 ESD 故障排除
电机驱动设计、功率转换器设计 、电子镇流器设计
氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析
高压高带宽测试应用的安全隔离测试
逆变器、UPS及开关电源的测试
宽电压、宽带测试应用
各种浮地测试
最真实的信号呈现
OIP Pro系列光隔离探头具有极高的共模抑制比，在100MHz时CMRR高达112dB、在500MHz时CMRR仍然高达100dB，是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。
极高的测试精度
作为判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判，测试精度是OIP Pro系列光隔离探头的重要指标。OIP Pro系列光隔离探头，具有极佳的幅频特性，有效精度带宽[1]高达标称带宽50%以上，在有效精度带宽内可以确保1.5%的测试精度，直流增益精度优于1%，全量程范围内最大1.41mVrms底噪，24小时零点漂移小于50μV。
第三代半导体的最佳测试手段
第三代半导体器件由于导通与关断时间很短，信号具有更快的上升沿和下降沿，信号中具有很高能量的高频谐波，OIP Pro系列光隔离探头在最高带宽时，仍然具有近100dB的共模抑制比，可以近乎完美地抑制高频共模噪声所产生的震荡，所呈现的信号没有额外多余成分，是第三代半导体测试的不二之选。
测试氮化镓（GaN）不炸管
OIP Pro系列光隔离探头测试引线短且采用同轴传输，探头输入电容小于3pF，测试氮化镓（GaN）十分安全。
使用灵活
OIP Pro系列光隔离探头比传统高压差分探头体积更小，探头引线更精巧，使用更加灵活方便。
测试量程更宽
不同于高压差分探头只可以测试高压信号，OIP Pro系列光隔离探头通过匹配不同的衰减器，可以测试±1V至±2500V的差模信号，并实现满量程输出，达到很高的信噪比。
高效便捷
OIP Pro系列光隔离探头响应快，上电即测，无需预热等待，校准时间小于1秒，可实时保证精确的信号输出。
应用场景
对其他电压探头所测结果准确性、真实性存在质疑时，OIP Pro系列光隔离探头可作为最终裁判依据，尤其是下列技术领域：
氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析
逆变器、UPS及开关电源的测试
高压高带宽测试应用的安全隔离测试
宽电压、宽带测试应用
各种浮地测试
电机驱动设计、功率转换器设计 、电子镇流器设计
电源设备评估、电流并联测量、EMI 和 ESD 故障排除
